日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息特點采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備測量項目...

產(chǎn)品型號：

更新時間：2026-02-27

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：231

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19938139269（馬經(jīng)理）

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

產(chǎn)品介紹

日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測

● 三次元折射率/Rth/β*
● 分光光譜/色度*

*選配功能追加

測量對象

● 液晶cell
　-　透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強(qiáng)感應(yīng)電）
　-　反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
● 光學(xué)材料
　-　其他（相位差、橢圓、偏光膜、液晶材料）

仕　樣

型號	RETS series
樣品尺寸	20mm x 20mm ～*
cell gap測量范圍	0.1μm ～數(shù)10μm
cell gap重復(fù)性	±0.005μm
檢出器	多通道分光光度計
測量波長范圍	400nm ～ 800nm
光學(xué)系透過用偏光子unit	偏光光學(xué)系消光比 10-5內(nèi)置Gran-tomson prism（方解石）自動旋轉(zhuǎn)（角度精度0.1°）、自動裝卸機(jī)構(gòu)
測量口徑	φ2, φ5, φ10 (mm)
光軸傾斜機(jī)構(gòu)	-20 ～ 45°、-45 ～ 45°等

*也可用于大型玻璃基板(3000mmx3000mm以上)

測量案例

日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測

液晶面內(nèi)分布圖

日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測

核心特點：

微區(qū)測量能力：最小光斑直徑3μm，搭配自動XY平臺（200×200mm），實現(xiàn)晶圓、FPD（如OLED、ITO膜）等微小區(qū)域的精準(zhǔn)厚度分布映射。
跨行業(yè)適用性：專為半導(dǎo)體（SiO?/SiN膜）、顯示面板（彩色光阻）、DLC涂層等行業(yè)設(shè)計，支持粗糙表面、傾斜結(jié)構(gòu)及復(fù)雜光學(xué)異向性樣品的分析。
安全與擴(kuò)展性：區(qū)域傳感器觸發(fā)防誤觸機(jī)制，獨立測量頭支持定制化嵌入，滿足在線檢測（inline）與實驗室研發(fā)需求。

日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測-成都藤田科技提供